Оптическое пропускание пленок стандартного и восстановленного оксида графена при обработке эрбиевым лазером с варьированием плотностей энергии
Проводилось исследование оптического пропускания тонких пленок стандартного и восстановленного оксида графена. ИК-спектры в диапазоне 1000…2400 нм были измерены для двух образцов. Пленки подвергались облучению эрбиевым лазером на длине волны 1.54 мкм с длительностью импульса 90 нс при плотностях энергий от 30 до 350 мДж/cм2. Были определены уровни проходящей через образцы энергии и пороговые энергии, вызывающие разрушение материала. Полученные результаты позволяют оценить возможность использования тонких пленок на основе графена в качестве оптического ограничителя в электронных устройствах для обеспечения безопасности восприятия излучения глазом человека и чувствительных к излучению компонентов оптико-электронных схем.
Авторы: М. Е. Ильин, Н. В. Каманина
Направление: Физика
Ключевые слова: оксид графена, ИК-спектр, оптическое ограничение, эрбиевый лазер, свойства поверхности
Открыть полный текст статьи