Атомно-силовая микроскопия и ее применения в науке, технике и реставрации
Представлен обзор аналитического приборного метода исследования микроструктуры и топографии поверхностей материалов со сверхвысоким разрешением – атомно-силовой микроскопии. Приводится краткое описание физических принципов работы и основных применений этого метода, в том числе для проведения физических и биологических исследований, а также в промышленном производстве и реставрации памятников.
Авторы: В. А. Парфенов, И. А. Юдин
Направление: Приборостроение и информационно-измерительные технологии
Ключевые слова: Сканирующая зондовая микроскопия, атомно-силовой микроскоп, наноидентирование, тонкие пленки, биология и медицина, реставрация
Открыть полный текст статьи