Изменение морфологических и структурных свойств тонких пленок на основе системы SnO 2 –SiO 2 , полученных золь-гель-методом при модификации их оксидом цинка
Проводится анализ влияния примеси оксида цинка на ф ормирование фрактальных пористых структур в си- стеме SnO 2 –SiO 2 , полученных золь-гель-методом. Получено, что при в ведении рассматриваемой добавки пори- стость пленки увеличивается. Проведена попытка обос нования данных результатов в рамках концепции спо- собности и неспособности формирования разветвленных полимеров некоторыми металлооксидами.
Авторы: Е. В. Абрашова
Направление: Физика твердого тела и электроника
Ключевые слова: Золь-гель-метод, широкозонные металлооксиды, фракта льная размерность, тонкопленочные материалы
Открыть полный текст статьи