Качественный и количественный анализ морфологии поверхности порфириновых пленок
Проведен анализ морфологии поверхности тонких поликристаллических пленок тетрафенилпорфиринов – H2TPP и ZnTPP, полученных методом вакуумной конденсации в квазиравновесных условиях. Применение аналитических методов для обработки изображений поверхности органических пленок, полученных с помощью растровой электронной микроскопии, позволило выявить не только качественные, но и численные характеристики структуры поликристаллических пленок: средний размер зерен, их распределение по размеру, наличие текстуры и характерные ориентации кристаллитов. Показано, что при конденсации в одинаковых условиях пленки тетрафенилпорфирина со свободным основанием H2TPP имеют более выраженную текстуру и больший размер кристаллитов, чем ZnTPP, что связано с особенностями самоорганизации молекул. Показана применимость аналитических методов анализа изображений поверхности наноструктурированных пленок для получения информации о структуре и морфологии поверхности тонких органических пленок при вакуумной конденсации.
Авторы: Д. У. Беков, И. Б. Захарова, Н. М. Романов, М. А. Елистратова
Направление: Физика
Ключевые слова: тетрафенилпорфирин, H2TPP, ZnTPP, металлопорфирины, тонкие пленки, текстура, метод вакуумного напыления, растровая электронная микроскопия
Открыть полный текст статьи