Неразрушающая методика тестирования флеш-памяти микроконтроллера. Доступность и уязвимость по каналу энергопотребления
На примере 8-битного однокристального микроконтроллера общего назначения исследована возможность организации доступа к флеш-памяти по каналу энергопотребления. Обозначена степень важности проблемы обеспечения целостности конфиденциальной информации, хранящейся во флеш-памяти микропроцессорной техники. Рассмотрены теоретические и практические аспекты процедуры получения и анализа данных о напряжении питания тестируемого устройства. Выявлены и проанализированы различные зависимости амплитуды импульса, возникающего в момент выполнения операции чтения числа из памяти, от конкретной конфигурации установленных бит считываемого однобайтового значения. По результатам исследований сделан вывод об устойчивости протестированного микроконтроллера, описаны необходимые условия для возможности полного либо частичного восстановления содержимого флеш-памяти с помощью доступа по каналу энергопотребления. В общих чертах сформулированы ключевые положения будущей методики тестирования микроконтроллеров для определения степени их уязвимости к извлечению данных флеш-памяти.
Авторы: К. К. Кондрашов, А. О. Гасников, В. В. Лучинин
Направление: Информатика, вычислительная техника и управление
Ключевые слова: Неразрушающий анализ, микроконтроллер, флеш-память, энергопотребление
Открыть полный текст статьи